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\chapter{Conclusiones}  \section{Conclusiones sobre Nanoprismas de Plata}  \subsection{TEM} \subsection{Microscop\'ia Electr\'onica de Transmisi\'on (TEM)}  La microscop\'ia electr\'onica de transmisi\'on consisten de un haz de electrones que es transmitido a trav\'es de una muestra ultra fina. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos y otros lo atraviesan, formando una imagen amplificada de la muestra. Los TEMs están equipados con sistemas de bombeo completos y su sellado de vac\'io no es permanente.  \subsection{XPS}  Las muestras son introducidas en una primera cámara donde se procede a vaciar la atmósfera existente y acercarse a un vacío de 10-6 torr. La colocación de la muestra en el interior de la cámara se realiza mediante una barra unida a un portamuestras. Dentro de la cámara principal, la muestra puede ser orientada en distintas posiciones y se puede elegir la zona de la superficie a trabajar. 
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\subsection{Espectroscop\'ia UV-visible}  Para partículas de ZnO de alrededor de 3nm en di\'ametro, el m\'aximo de absorbancia (λ_{max}) est\'a alrededor de 365nm. Para coloides m\'as pequeños se espera un ligero desplazamiento al azul (pocos nanometros), mientras que para coloides mas grandes, se observa un desplazamiento al rojo de esta banda. El ancho del pico da informaci\'on proporcional a la polidispersidad de la soluci\'on coloidal, con picos mas anchos indicando una distribuci\'on mas grande en el tamaño de la part\'icula.  \section{Conclusiones sobre Vidrios Derivatizados Superficialmente}  \subsection{ATR-FTIR} \subsection{Espectroscop\'ia Infrarroja por Transformada de Fourier - modo Reflectancia Total Atenuada (ATR-FTIR)}  La t\'ecnica de ATR-FTIR en el modo de incidencia m\'ultiple con ventana de seleniuro de zinc permite una mejor resoluci\'on para la identificaci\'on de la absorci\'on de grupos funcionales carácter\'isticos de especies presentes en una superficie.  Los espectros de ATR-FTIR obtenidos no proporcionaron suficiente informaci\'on, a excepci\'on de la presencia de las bandas de estiramiento sim\'etrico y antisim\'etrico de grupos metilo y metileno en las muestras con OTS. Durante la medici\'on, las muestras no hac\'ian buen contacto con la placa de $CdTe$. Adem\'as, para mejorar la señal obtenida, se podr\'ia haber realizado una purga del equipo, tanto en el camino \'optico interno como en la c\'amara de la muestra.   \subsection{\'Angulo de Contacto} 
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