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La microscop\'ia electr\'onica de transmisi\'on consisten de un haz de electrones que es transmitido a trav\'es de una muestra ultra fina. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos y otros lo atraviesan, formando una imagen amplificada de la muestra. Los TEMs están equipados con sistemas de bombeo completos y su sellado de vac\'io no es permanente.  \subsection{XPS}  Las muestras son introducidas en una primera cámara donde se procede a vaciar la atmósfera existente y acercarse a un vacío de 10-6 torr. La colocación de la muestra en el interior de la cámara se realiza mediante una barra unida a un portamuestras. Dentro de la cámara principal, la muestra puede ser orientada en distintas posiciones y se puede elegir la zona de la superficie a trabajar.  Sobre el ruido de fondo de de los espectros obtenidos se observan: picos de fotoemisión asociados con sucesos de fotoionización en niveles electrónicos del átomo, y picos correspondientes a rayos-X inducidos por emisión de electrones Auger. Como regla general, un espectro XPS se estudia realizando espectros locales de alta resolución sobre cada una de las zonas características encontradas en un primer espectro de barrido amplio, corroborando toda la información que sea obtenida y procurando que no existan contradicciones. Los análisis cuantitativos se realizan mediante estudio de la relación de áreas encerradas bajo cada pico para los diferentes elementos. Introduciendo los apropiados factores de corrección se puede determinar el porcentaje de cada elemento presente.  Las medidas de XPS permitieron identificar la presencia de cloruros en el espectro, que podr\'ia atribuirse a las impurezas presentes en los reactivos empleados en la s\'intesis, que concuerda con la proporci\'on mas baja obtenida.  Podr\'ia emplearse espectroscop\'ia de absorci\'on at\'omica como t\'ecnica alternativa a la identificaci\'on de los elementos presentes en el seno de las nanopart\'iculas. 
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