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\chapter{Conclusiones}  \section{Conclusiones sobre Nanoprismas de Plata}  \subsection{Microscop\'ia Electr\'onica de Barrido (SEM)}  El fundamento de esta técnica radica en que los electrones emitidos por un cátodo de tungsteno pasan a través de una columna en la que se ha hecho un vacío de alrededor de 10-7 10^{-7}  torr. En ella, el haz inicial es concentrado por una serie de lentes electromagnéticas (condensadora, objetivo) desde unos 25.000 - 50.000nm hasta unos 10nm; es decir, su diámetro va disminuyendo hasta hacerse casi puntual. Al mismo tiempo, la intensidad de corriente se disminuye desde unos 10-14A 10^{-14}A  hasta unos 10-10-10-12A. 10^{-10}-10^{-12}A.  El haz electrónico con estas últimas características, es decir puntual, es desplazado sobre toda la superficie de la muestra a modo de un pincel que iría barriendo la muestra con continuas idas y venidas. \subsection{Microscop\'ia Electr\'onica de Transmisi\'on (TEM)}  La microscop\'ia electr\'onica de transmisi\'on consisten de un haz de electrones que es transmitido a trav\'es de una muestra ultra fina. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos y otros lo atraviesan, formando una imagen amplificada de la muestra. Los TEMs están equipados con sistemas de bombeo completos y su sellado de vac\'io no es permanente.  \subsection{Espectroscop\'ia Fotoelectr\'onica de rayos X (XPS)} 
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