deletions | additions       diff --git a/subsection_Espectroscop_ia_electr_onica__.tex b/subsection_Espectroscop_ia_electr_onica__.tex  index 0a10a29..2c76e8d 100644  --- a/subsection_Espectroscop_ia_electr_onica__.tex  +++ b/subsection_Espectroscop_ia_electr_onica__.tex 
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\end{itemize}  La preparaci\'on de las muestras, implic\'o disgregarlas en una masa dada de $BaSO_4$ (sustancia blanco para la t\'ecnica) y dejar evaporar el solvente. De esta forma, se logr\'o una dispersi\'on uniforme de la muestra.    \subsection{XPS}  En un an\'alisis de XPS se ha de realizar un amplio barrido del espectro, cubriendo un rango de unos 1000eV, y posteriormente se ha de mirar con m\'as detalle rangos m\'as pequeños, de unos 2eV. En un espectro de XPS se muestran valores de energ\'ia de enlace en el eje de obscisas y la intensidad o cuanteas medidas en el eje de ordenadas. Existe un aumento del ruido de fondo cuando se incrementa la energ\'ia de enlace. Esto es debido a que despu\'es de cada fen\'omeno de fotoemisi\'on, existe una señal acumulativa de ruido de fondo asociada con fotoelectrones que han perdido energ\'ia debido a colisiones inel\'asticas en el s\'olido, pero que todav\'ia tienen energ\'ia suficiente para escapar. Sobre el ruido de fondo de este espectro se observan: picos de fotoemisi\'on asociados con sucesos de fotoionizaci\'on en niveles electr\'onicos del \'atomo, y picos correspondientes a rayos-X inducidos por emisi\'on de electrones Auger. Como regla general, un espectro XPS se estudia realizando espectros locales de alta resoluci\'on sobre cada una de las zonas caracter\'isticas encontradas en un primer espectro de barrido amplio, corroborando toda la informaci\'on que sea obtenida y procurando que no existan contradicciones. Los an\'alisis cuantitativos se realizan mediante estudio de la relaci\'on de \'areas encerradas bajo cada pico para los diferentes elementos. Introduciendo los apropiados factores de correcci\'on se puede determinar el porcentaje de cada elemento presente.