Современные наноматериалы, применяемые в оптике, состоят из различных комбинаций сферических частиц. Исследователя интересует распределение электромагнитного поля вблизи данных частиц, что позволяет оценить поле внутри сложных материалов. Поэтому является актуальным разработка методики и алгоритмов для решения задач такого рода. В статье рассматривается применение векторного метода конечных элементов для исследования электромагнитного поля вблизи наночастиц.